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關于熱疲勞、熱分析、熱疲勞可靠性分析的專業技術知識介紹

2020-04-07 02:59:32 hualin

熱(re)疲勞(lao)


金屬(shu)材料由于(yu)溫度梯度循環(huan)引起的(de)(de)熱應(ying)力(li)循環(huan)(或熱應(ying)變循環(huan)),而產生的(de)(de)疲(pi)勞破壞現象,稱(cheng)為熱疲(pi)勞。
 
產生原(yuan)因
金屬零件在高溫條件下工(gong)作時,其(qi)環境(jing)溫度并不恒定(ding),而(er)有(you)時是(shi)急劇(ju)反(fan)復(fu)變化(hua)的。由(you)此造成(cheng)的膨脹(zhang)和收縮若受(shou)到約束(shu)時,在零件內部(bu)就會(hui)產生熱應(ying)(ying)力(又稱溫差應(ying)(ying)力)。溫度反(fan)復(fu)變化(hua),熱應(ying)(ying)力也隨著反(fan)復(fu)變化(hua),從(cong)而(er)使材(cai)料受(shou)到疲勞損(sun)傷。
塑性材(cai)料(liao)抗(kang)熱(re)應(ying)變(bian)的能力較強,故不易發生熱(re)疲勞。相反,脆性材(cai)料(liao)抗(kang)熱(re)應(ying)變(bian)的能力差,熱(re)應(ying)力容(rong)易達到材(cai)料(liao)的斷裂應(ying)力故易受熱(re)沖擊而破壞。
 
特征
(1)典型的(de)表面疲勞裂(lie)紋呈龜裂(lie)狀。
(2)裂(lie)(lie)紋走向可以是沿(yan)晶型(xing)的(de),也可以是穿晶型(xing)的(de);一般裂(lie)(lie)紋端部較尖銳,裂(lie)(lie)紋內有或充滿氧化物。
(3)宏觀斷口呈灰色,并為(wei)氧(yang)化物(wu)覆蓋。
(4)裂紋源于表面,裂紋擴展(zhan)深度與應力、時間及溫差變化(hua)相對應。
 
影響因素
(1)環(huan)境的溫(wen)度梯度及變化頻率越(yue)大越(yue)易產生(sheng)熱(re)疲勞。
(2)熱膨脹系數不同(tong)的材料組合時,易出(chu)現熱疲(pi)勞。
(3)晶粒粗大且(qie)不均勻,易出現(xian)熱(re)疲勞。
(4)晶(jing)界分布的第二(er)相質點對熱疲勞(lao)的產生(sheng),具有(you)促進作用。
(5)材料的(de)塑(su)性差,易出現熱(re)疲(pi)勞。
(6)零件的幾何結(jie)構對金屬(shu)的膨脹(zhang)和收縮的約束作(zuo)用大,易(yi)出現熱疲(pi)勞。
 
熱分析


 

 

 


熱(re)分析(xi),又(you)稱熱(re)模擬,是利用數學手(shou)段(duan),在電子產(chan)品的(de)設(she)(she)計(ji)階段(duan)獲得溫度分布的(de)方法,它可以使電子產(chan)品設(she)(she)計(ji)人(ren)員和(he)可靠性(xing)設(she)(she)計(ji)人(ren)員在設(she)(she)計(ji)初(chu)期就能發現(xian)產(chan)品的(de)熱(re)缺陷,從而(er)改(gai)進其設(she)(she)計(ji),為(wei)提高產(chan)品設(she)(she)計(ji)的(de)合(he)理性(xing)及可靠性(xing)提供有力保障。


 

 

 


熱(re)分(fen)析需建立電子產品溫(wen)度場(chang)和流場(chang)的(de)數(shu)學模型(xing),并對(dui)其求(qiu)解(jie),由于求(qiu)解(jie)的(de)復(fu)雜性(xing),熱(re)分(fen)析大(da)都(dou)采用(yong)軟件(jian)來完成。國(guo)外有很多公司已經(jing)開發(fa)了電產品熱(re)分(fen)析軟件(jian),并且大(da)多數(shu)已經(jing)商品化。應用(yong)軟件(jian)進行(xing)熱(re)分(fen)析的(de)基本(ben)步驟(zou)為:


 

 

 


(a)根據或設計要求建立熱分析模型,確(que)定邊界條(tiao)件;
(b)劃分網格,進行(xing)計算(suan),迭代直到收斂為止;
(c)后處理,以(yi)報表、圖形(xing)或動(dong)畫的形(xing)式(shi)觀察溫(wen)度場。
熱分(fen)析(xi)軟件雖能(neng)較準(zhun)確的(de)(de)獲得溫度(du)場的(de)(de)分(fen)布,但(dan)在應用過程(cheng)中(zhong)可能(neng)存在建模不(bu)合理,輸入參(can)數的(de)(de)不(bu)準(zhun)確等原因而(er)導(dao)致熱分(fen)析(xi)誤(wu)差較大(da),不(bu)能(neng)滿足工程(cheng)要(yao)求。
 
熱分析CAE工具實施要(yao)點


 

 

 


(1)建(jian)模(mo)
熱(re)分(fen)析(xi)模(mo)型(xing)建立的(de)(de)不(bu)準(zhun)確(que),會(hui)導致(zhi)較大(da)的(de)(de)熱(re)分(fen)析(xi)誤(wu)差,不(bu)能滿足(zu)工程要求。對于準(zhun)確(que)的(de)(de)模(mo)型(xing),如(ru)果(guo)過于復雜,又會(hui)占用大(da)量的(de)(de)計(ji)算(suan)(suan)機資源和計(ji)算(suan)(suan)時間;如(ru)果(guo)過于簡單,則計(ji)算(suan)(suan)結果(guo)可能會(hui)忽略(lve)大(da)量的(de)(de)細節,而達不(bu)到分(fen)析(xi)的(de)(de)目的(de)(de)。
建(jian)模(mo)的(de)策(ce)略(lve)是(shi)由重(zhong)要(yao)到次(ci)要(yao),由簡單到復雜。即從最重(zhong)要(yao)的(de)入手,比如(ru)確定(ding)整體布(bu)局,對壁、外(wai)殼(ke)、開孔、功耗、電路板等進(jin)行建(jian)模(mo);在這基礎上,再加(jia)入其它較重(zhong)要(yao)的(de)影(ying)響因(yin)(yin)素,比如(ru)器(qi)件(jian)的(de)布(bu)局與(yu)建(jian)模(mo),外(wai)殼(ke)與(yu)外(wai)界的(de)熱(re)交換(huan)等等;對重(zhong)點分析部位進(jin)行詳細建(jian)模(mo)(例如(ru)對關鍵發(fa)熱(re)元器(qi)件(jian)進(jin)行三維詳細建(jian)模(mo));對于次(ci)要(yao)因(yin)(yin)素,進(jin)行粗略(lve)建(jian)模(mo),甚至忽(hu)略(lve)掉(diao)(例如(ru)對于發(fa)熱(re)很(hen)小或不發(fa)熱(re)的(de)元器(qi)件(jian))。


 

 

 


(2)輸入參數的確(que)定
輸入參(can)數的準確與否,極(ji)大地影(ying)響著熱分析結果(guo)。輸入參(can)數主要包括材料(liao)的熱傳(chuan)(chuan)導(dao)率(lv)、元器件的熱功耗、初(chu)始(shi)條件等(deng)等(deng),其中傳(chuan)(chuan)導(dao)率(lv)等(deng)可通(tong)過查(cha)工程熱設計手(shou)冊、實驗(yan)或反復(fu)修正來得到,初(chu)始(shi)條件可通(tong)過測量得到,熱功耗可以通(tong)過查(cha)產品手(shou)冊或電路仿真的方法得到。


 

 

 


(3)網格劃分技術
    劃分網格(ge)(ge)(ge)的(de)多少在一定(ding)程度(du)上(shang)影響(xiang)著熱分析的(de)結果,通常網格(ge)(ge)(ge)劃分的(de)越多,則計(ji)算(suan)精度(du)越高,但網格(ge)(ge)(ge)過(guo)多計(ji)算(suan)時間將過(guo)長,而精度(du)得不到明顯的(de)提高。因此應靈活運用網格(ge)(ge)(ge)劃分技術,在重要(yao)部(bu)位(wei)(如溫(wen)度(du)梯(ti)度(du)高的(de)位(wei)置,芯片位(wei)置等)進行局部(bu)加密(mi),在不規(gui)則形狀(zhuang)處采用非結構化網格(ge)(ge)(ge)。
 
應用(yong)示例
作為一(yi)個(ge)示例,采用某熱分析(xi)軟(ruan)件對一(yi)個(ge)板級電路(lu)進行熱分析(xi)。
(1)建立(li)熱分析模型
 建立(li)的熱分(fen)析模型如圖(tu)1所示。


 

 

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圖(tu)1  某印刷電(dian)路板的熱分析模(mo)型(xing)

 

 


 (2)設(she)置(zhi)電路(lu)板的屬性
 在電路板的屬性菜單設置電路板的幾何尺寸、層的厚度和電路板中金屬部分的傳導率(例如銅的傳導率為388W/m.K)等參數。
(3)輸入參數
 如是(shi)穩態熱(re)分析(xi),初始(shi)條(tiao)件可(ke)設為0,如不是(shi)穩態分析(xi),可(ke)設置(zhi)(zhi)(zhi)開始(shi)時刻的溫度值;設置(zhi)(zhi)(zhi)每個器(qi)件的功耗;器(qi)件的熱(re)傳(chuan)導率,對于詳細建模的器(qi)件還應分別(bie)輸入其(qi)金(jin)屬部分的熱(re)傳(chuan)導率和非金(jin)屬部分的熱(re)傳(chuan)導率;電(dian)路(lu)板(ban)的工作(zuo)環境條(tiao)件,包括電(dian)路(lu)板(ban)在機(ji)箱中的位(wei)置(zhi)(zhi)(zhi)、空氣流動情況、鄰(lin)近電(dian)路(lu)板(ban)或機(ji)箱壁(bi)的熱(re)效應等。
(4)劃分網格
 進入(ru)網(wang)(wang)格(ge)劃分(fen)(fen)菜(cai)單(dan),選擇相鄰網(wang)(wang)格(ge)間的寬度和高度,計算機自動劃分(fen)(fen)網(wang)(wang)格(ge)。
(5)查看分(fen)析結果
 進入后(hou)處(chu)理(li)菜(cai)單,可選擇多種查(cha)看結(jie)果的(de)(de)方法。例如溫(wen)度(du)分(fen)布(bu)圖(tu),溫(wen)度(du)梯(ti)度(du)分(fen)布(bu)圖(tu),等溫(wen)圖(tu)等,圖(tu)2為該電路板的(de)(de)溫(wen)度(du)分(fen)布(bu)圖(tu),以不同的(de)(de)顏色(se)代表(biao)不同的(de)(de)溫(wen)度(du)值(zhi)。


 

 

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圖(tu)(tu)2 某(mou)印(yin)刷電路板的溫度分布圖(tu)(tu)

 



熱疲勞可靠性仿(fang)真分析


 

    91質量(liang)網開發(fa)了專業的分布式多學科(ke)協同可靠性仿真軟件(了(le)解更多內容,請本公眾號回復“分(fen)布式仿(fang)真”),在熱疲勞可(ke)靠性仿真(zhen)分(fen)析方面,已在核(he)工(gong)業、航空、風(feng)電(dian)、兵器等(deng)領域得到廣(guang)泛(fan)應用。

   

     熱(re)疲勞可(ke)靠(kao)性分(fen)(fen)析(xi)是熱(re)疲勞分(fen)(fen)析(xi)與可(ke)靠(kao)性分(fen)(fen)析(xi)的(de)一體化,在分(fen)(fen)析(xi)時,很多情況(kuang)(kuang)下(xia)難以直接建(jian)立應(ying)力、應(ying)變(bian)(bian)、位(wei)移等(deng)與載(zai)荷、材料、結構尺寸的(de)關系,往(wang)(wang)往(wang)(wang)需要借(jie)助熱(re)分(fen)(fen)析(xi)CAE工具(ju)進行分(fen)(fen)析(xi),這(zhe)種情況(kuang)(kuang)下(xia)反(fan)映為功(gong)能(neng)函數與基本隨機(ji)變(bian)(bian)量的(de)關系是隱式的(de)。

 

從可靠(kao)度計算(suan)的角度分(fen)析(xi),模(mo)擬法和響應面法一般(ban)只需要獲(huo)得功能函數在給定樣本點的值,這些(xie)值可以借助熱(re)分(fen)析(xi)CAE工具分(fen)析(xi)獲(huo)得,再對結果(guo)進(jin)行(xing)統計來(lai)計算(suan)可靠(kao)度;一次可靠度(du)法不僅需要計算(suan)功(gong)能函(han)數(shu)的(de)值(zhi),還需要獲得功(gong)能函(han)數(shu)關于(yu)隨機向量的(de)梯(ti)度(du)。

 

利用熱(re)分(fen)析CAE工(gong)具進行可靠性仿真計算,必須(xu)解決以(yi)下(xia)2個問題(ti):

(1)可靠度計(ji)算程序對熱分析CAE軟件的封裝和調用,以實現(xian)功能函(han)數值的計(ji)算;

(2)梯度的計算(suan),這(zhe)可(ke)以在獲得功能函數值的基礎上采(cai)用(yong)有限差(cha)分法計算(suan)。

因此(ci)關鍵是實現利用熱分析CAE工具實現功能函數值的計算。

 

有(you)兩種實現(xian)可靠(kao)性(xing)仿真計算的(de)思路:抽樣(yang)仿(fang)真(zhen)和迭代仿(fang)真(zhen),如圖(tu)3所示。

 

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   圖3  可靠性仿(fang)真的(de)流(liu)程